ZD9002-E在線電路維修測(cè)試儀是著名的高端測(cè)試儀,在國(guó)內(nèi)、外擁有大量的用戶群,享有很高的知名度和聲譽(yù)。
ZD9002-E在線電路維修測(cè)試儀功能強(qiáng)大、性能穩(wěn)定、安全性高,操作便捷,測(cè)試快速,是備受青睞的電路維修診斷專(zhuān)家。
主要測(cè)試功能:
◇雙40路數(shù)字器件在線功能測(cè)試;
◇±12V高壓接口數(shù)字器件在線功能測(cè)試;
◇模擬運(yùn)放在線功能測(cè)試(放大測(cè)試、參數(shù)測(cè)試);
◇電壓比較器在線功能測(cè)試;
◇±12V高壓模擬開(kāi)關(guān)在線功能測(cè)試;
◇分立元件功能測(cè)試(晶體管功能特性測(cè)試、穩(wěn)壓塊量值特性測(cè)試、電容量值特性測(cè)試、繼電器/光耦及其它器件動(dòng)態(tài)特性測(cè)試等);
◇80路VI曲線元器件特性分析測(cè)試;
◇交互測(cè)試平臺(tái)功能;
◇元器件性能篩選。
微機(jī)適用規(guī)格:
◎支持當(dāng)今市場(chǎng)上所有最新規(guī)格的臺(tái)式電腦和筆記本電腦(亦兼容老式電腦);
◎支持單核、雙核、4核、8核等CPU處理器(無(wú)需將電腦強(qiáng)制設(shè)置成單核狀態(tài));
◎支持windows8.1(64位/32位)、windows7(64位/32位)、支持windows XP等全部微軟主流操作系統(tǒng),支持最新windows10操作系統(tǒng);
◎支持USB3.0、USB2.0接口;
◎支持高速PCI接口方式;
◎支持電腦觸摸屏操作方式。
主要技術(shù)指標(biāo):
01.計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng):支持windows8.1(64位)/windows7(64位)操作系統(tǒng),向下兼容;
02.計(jì)算機(jī)CPU類(lèi)型:支持8核等多核CPU處理器,向下兼容;
03.計(jì)算機(jī)USB接口:支持USB3.0接口,向下兼容;
04.計(jì)算機(jī)PCI接口:支持PCI卡,高速接口;
05.測(cè)試軟件操作方式:支持觸摸屏操作;
06.測(cè)試通道:180路(測(cè)試夾通道);
其中:數(shù)字通道:80路。VI模擬通道:80路。模擬功能通道:20路;
07.程控獨(dú)立測(cè)試電源:5種。+3.3V/1A、+5V/5A、+12V/3A、-5V/0.5A、-12V/0.5A;
08.后驅(qū)動(dòng)測(cè)試電流:>300mA;
09.數(shù)字測(cè)試通道:80路;
10.總線隔離通道:可設(shè)定邏輯高/低2狀態(tài),可同時(shí)驅(qū)動(dòng)16個(gè)標(biāo)準(zhǔn)TTL數(shù)字器件;
11.測(cè)試閾值調(diào)節(jié)精度:可測(cè)試5V、12V數(shù)字器件,有默認(rèn)閾值和自定義閾值;
12.數(shù)字測(cè)試頻率:1kHz~75kHz;
13.可編程獨(dú)立模擬通道:VI/模擬混合通道2路,模擬輸出4路;
14.綜合測(cè)試通道:2路??僧a(chǎn)生各種信號(hào);
15.方波信號(hào)周期:25µs~1s,(頻率:1Hz~40kHz),調(diào)節(jié)精度0.1µs;
16.VI模擬測(cè)試通道:80路。另外,探棒通道:2路;
17.模擬器件功能測(cè)試通道:20路。另外,探棒通道:4路;
18.VI測(cè)試分辨率:32~512點(diǎn)/周期,分別為:(32/64/128/256/512)點(diǎn)/周期;
19.VI測(cè)試阻抗中值:100Ω/1kΩ/10kΩ/100kΩ/470kΩ;
20.VI測(cè)試掃描電壓:-28V~+28V;
21.VI測(cè)試結(jié)點(diǎn)選擇:5種(類(lèi)似自動(dòng)相機(jī)的拍攝模式設(shè)置,無(wú)需手動(dòng)無(wú)序調(diào)節(jié));
22.VI電容參數(shù)測(cè)試范圍:103~47000µF(掃描點(diǎn)數(shù):512點(diǎn)/周期,掃描周期:48.4~3020ms);
23.VI曲線定時(shí)測(cè)試:可一次性連續(xù)存儲(chǔ)240個(gè)測(cè)試點(diǎn)。可設(shè)置各種時(shí)長(zhǎng)的測(cè)試節(jié)奏音和對(duì)錯(cuò)提示音,VI曲線探棒建庫(kù)/比較全程由聲音提示,實(shí)現(xiàn)了非測(cè)試夾提取方式的不抬頭建庫(kù)/比較測(cè)試;
24.VI巡檢測(cè)試窗口:2窗口。兩個(gè)測(cè)試窗口可同時(shí)分別測(cè)試,支持兩個(gè)人同時(shí)各自使用測(cè)試儀;
25.VI巡檢測(cè)試清晰度:512點(diǎn)/周期。VI巡檢曲線512點(diǎn)高清顯示,雙路探棒比較時(shí)測(cè)試結(jié)果實(shí)時(shí)聲音提示;
26.網(wǎng)絡(luò)測(cè)試通斷閾值精度:15Ω±5Ω;
27.器件功能測(cè)試庫(kù):TTL74/54、CMOS40/45、驅(qū)動(dòng)器庫(kù)、29000、RAM、8000/80000、HD2500、9000/90000、3400/34000、AMD2500、俄羅斯庫(kù)、西門(mén)子庫(kù)、淘汰器件替代庫(kù)、LSI庫(kù)、PLD庫(kù)、EPROM庫(kù)、高壓接口庫(kù)、集成運(yùn)放庫(kù)、電壓比較器庫(kù)、模擬開(kāi)關(guān)庫(kù)、三端器件庫(kù)、穩(wěn)壓器件庫(kù)、光耦器件庫(kù)、疑難器件庫(kù)等;
28.最大額定功率:300W;
29.主機(jī)尺寸:360×430×200mm;
30.主機(jī)凈重:9.6kg。